恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫濕度滿足哪些標(biāo)準(zhǔn)呢?
溫度和濕度測(cè)試箱滿足下列各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
GB150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
gjb150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)法
恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于檢驗(yàn)電子產(chǎn)品,材料、電工、儀器儀表等產(chǎn)品在高低溫或者濕熱環(huán)境下的各種性能指標(biāo)。電子產(chǎn)品為什么要做恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)?
伴隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的快速發(fā)展,電工電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域越來(lái)越廣泛,所處的環(huán)境條件也越來(lái)越復(fù)雜多樣。只要對(duì)產(chǎn)品的環(huán)境條件進(jìn)行合理的規(guī)定,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)保措施,就可以保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過(guò)程中不受損害,安全可靠。所以,電子電工產(chǎn)品的人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸和使用過(guò)程中的安全與可靠性的重要保證。電子電工產(chǎn)品在出廠前進(jìn)行仿真環(huán)境試驗(yàn)是保證產(chǎn)品質(zhì)量*的重要環(huán)節(jié),其環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法和試驗(yàn)設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。